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應(yīng)用案例
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2024/6/5 13:18:09
果果儀器科技（上海）有限公司專精于溫控技術(shù)，擁有探針冷熱臺、光學(xué)冷熱臺、原位拉伸、原位XRD/SEM冷熱臺、超高溫?zé)崤_、高低溫試驗箱等多款技術(shù)產(chǎn)品，及介電溫譜、電卡、充放電測試、變溫D33等測試系統(tǒng)。近日根據(jù)客戶需求，果果儀器為浙江大學(xué)溫州研究院定制XRD原位熱臺，適配理學(xué)X射線衍射儀進行現(xiàn)場測試。該定制XRD熱臺是一款X射線衍射儀的變溫測試附件，可實現(xiàn)樣品變溫測試，支持在空氣/惰性氣體/真空的環(huán)境條件下測試。果果儀器XRD原位熱臺適合于粉末、片材樣品在變溫下進行X射線結(jié)構(gòu)研究，支持在現(xiàn)有各種X
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2024/6/5 11:42:16
果果儀器科技（上海）有限公司專精于溫控技術(shù)，擁有探針冷熱臺、光學(xué)冷熱臺、原位拉伸、原位XRD/SEM冷熱臺、超高溫?zé)崤_、高低溫試驗箱等多款技術(shù)產(chǎn)品，及介電溫譜、電卡、充放電測試、變溫D33等測試系統(tǒng)。根據(jù)客戶需求，果果儀器定制真空外置四探針冷熱臺，適配顯微鏡進行現(xiàn)場測試。果果儀器外置探針冷熱臺是一款針對材料研究過程中變溫電學(xué)測試而設(shè)計的產(chǎn)品，可表征材料升溫和降溫階段，其電學(xué)性能隨溫度變化的特征。果果儀器外置探針冷熱臺通過調(diào)節(jié)外部探針臂，移動內(nèi)部探針位置，進行高精度的XYZ方向位移。該定制真空探針
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2024/5/29 10:22:23
果果儀器科技（上海）有限公司專精于溫控技術(shù)，擁有探針冷熱臺、光學(xué)冷熱臺、原位拉伸、原位XRD/SEM冷熱臺、超高溫?zé)崤_、高低溫試驗箱等多款技術(shù)產(chǎn)品，及介電溫譜、電卡、充放電測試、變溫D33等測試系統(tǒng)。近日，果果儀器超高溫?zé)崤_進行現(xiàn)場測試，控溫最高可達1600℃。果果儀器超高溫?zé)崤_是一款針對研究樣品變溫光學(xué)性能測試而設(shè)計的產(chǎn)品，可表征樣品光學(xué)性能隨溫度變化的特征。該產(chǎn)品采用電阻加熱的方式，實現(xiàn)RT~1600℃范圍內(nèi)精準(zhǔn)控制，與其他光學(xué)設(shè)備（如顯微鏡、拉曼光譜等）搭配集成，進行變溫原位測試。超高溫?zé)?/p> 查看詳情
2024/5/28 17:26:06
果果儀器科技（上海）有限公司專精于溫控技術(shù)，擁有探針冷熱臺、光學(xué)冷熱臺、原位拉伸、原位XRD/SEM冷熱臺、超高溫?zé)崤_、高低溫試驗箱等多款技術(shù)產(chǎn)品，及介電溫譜、電卡、充放電測試、變溫D33等測試系統(tǒng)。根據(jù)客戶需求，果果儀器為西安交通大學(xué)定制μTS桌面式拉伸機冷熱臺。果果儀器桌面式拉伸機冷熱臺是一種安裝在萬能試驗機上研究樣品在變溫條件下進行應(yīng)力應(yīng)變測試的產(chǎn)品。該定制產(chǎn)品采用液氮致冷、電阻加熱的方式，實現(xiàn)-180~500℃（選型）溫度下材料的動態(tài)應(yīng)力應(yīng)變特性測試，可選配DIC、視頻引伸計實現(xiàn)應(yīng)變數(shù)據(jù)
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2024/5/28 16:02:15
果果儀器科技（上海）有限公司專精于溫控技術(shù)，擁有探針冷熱臺、光學(xué)冷熱臺、原位拉伸、原位XRD/SEM冷熱臺、超高溫?zé)崤_、高低溫試驗箱等多款技術(shù)產(chǎn)品，及介電溫譜、電卡、充放電測試、變溫D33等測試系統(tǒng)。原位X射線衍射 (X-ray diffraction, XRD) 可以在電池的充放電循環(huán)過程中, 實時監(jiān)測電極或電極-電解質(zhì)界面中物相及其晶格參數(shù)的變化過程，為深入研究電池的工作及失效機理提供重要視角與數(shù)據(jù)支持。果果儀器的XRD原位鋰電池裝置可以實現(xiàn)在鋰電池的充放電過程中原位XRD測試，以觀察充放電
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2024/5/8 10:03:15
果果儀器科技（上海）有限公司專精于溫控技術(shù)，擁有探針冷熱臺、光學(xué)冷熱臺、原位拉伸、原位XRD/SEM冷熱臺、超高溫?zé)崤_、高低溫試驗箱等多款技術(shù)產(chǎn)品，及介電溫譜、電卡、充放電測試、變溫D33等測試系統(tǒng)。X射線衍射儀技術(shù)(X-ray diffraction，XRD)，通過對材料進行X射線衍射，分析其衍射圖譜，獲得材料的成分、材料內(nèi)部原子或分子的結(jié)構(gòu)或形態(tài)等信息的研究手段。X射線衍射分析法是研究物質(zhì)的物相和晶體結(jié)構(gòu)的主要方法。當(dāng)某物質(zhì)(晶體或非晶體)進行衍射分析時，該物質(zhì)被X射線照射產(chǎn)生不同程度的衍射
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